Comparison of Impedance Matching Networks for Scanning Microwave Microscopy
Résumé
In this paper, a definition of the gain and added noise of impedance matching networks for scanning microwave microscopy is given. This definition can be used to compare different impedance matching techniques independently of the instrument used to measure the S-parameter. As a demonstration, impedance matching devices consisting of a Beatty line, a tuner, and interferometric setups with and without amplifiers have been investigated. Measurement frequencies up to 28 GHz are used, and the maximal resulting gain found was 9504.7 per Siemens.
Cet article donne une définition du gain et du bruit ajouté par les circuits d'adaptation d'impédance utilisés pour la microscopie en champ proche en hyperfréquences. Cette définition peut être utilisée pour comparer différentes techniques d'adaptation d'impédance indépendamment de l'instrument utilisé pour mesurer les paramètres S. À titre de démonstration, des dispositifs d'adaptation d'impédance composés d'une ligne Beatty, d'un tuner ou d'un interféromètre avec et sans amplificateur ont été étudiés. Les fréquences de mesure utilisées vont jusqu'à 28 GHz et le gain maximal obtenu est de 9504,7 par Siemens.
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