250MHz to 1.1THz measurement of an InP-HEMT using on-wafer multiline Thru-Reflect-Line calibration - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2024

250MHz to 1.1THz measurement of an InP-HEMT using on-wafer multiline Thru-Reflect-Line calibration

Domaines

Physique [physics] Sciences de l'ingénieur [physics]

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https://hal.science/hal-04764957

Soumis le : lundi 4 novembre 2024-11:59:16

Dernière modification le : mardi 5 novembre 2024-03:38:54

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-04764957 , version 1 (04-11-2024)

Identifiants

Citer

R. Younes, M. Samnouni, Sylvie Lepilliet, Nicolas Wichmann, Guillaume Ducournau, et al.. 250MHz to 1.1THz measurement of an InP-HEMT using on-wafer multiline Thru-Reflect-Line calibration. 2024 54th European Microwave Conference (EuMC), Sep 2024, Paris, France. pp.824-827, ⟨10.23919/EuMC61614.2024.10732877⟩. ⟨hal-04764957⟩

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