Article Dans Une Revue
Microelectronics Reliability
Année : 2024
Lorena Anghel : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-04757827
Soumis le : mardi 29 octobre 2024-10:40:09
Dernière modification le : mercredi 18 décembre 2024-10:08:06
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-04757827 , version 1
- DOI : 10.1016/j.microrel.2024.115397
Citer
Stéphane Burel, Adrian Evans, Lorena Anghel. Techniques for detecting and masking faults in semantic segmentation applications. Microelectronics Reliability, 2024, 157, pp.115397. ⟨10.1016/j.microrel.2024.115397⟩. ⟨hal-04757827⟩
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