Advanced EELS spectroscopy characterization of AlGaN/GaN materials
| Origine | Fichiers produits par l'(les) auteur(s) |
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| Licence |
| Origine | Fichiers produits par l'(les) auteur(s) |
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https://hal.science/hal-04750424
Soumis le : mercredi 23 octobre 2024-16:12:29
Dernière modification le : mercredi 22 octobre 2025-18:04:09