Challenges in characterizing BiCMOS SiGe HBT technologies for FOM evaluation and compact modelling - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2024

Challenges in characterizing BiCMOS SiGe HBT technologies for FOM evaluation and compact modelling

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hal-04736846 , version 1 (15-10-2024)

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  • HAL Id : hal-04736846 , version 1

Citer

Sebastien Fregonese, Magali de Matos, Thomas Zimmer. Challenges in characterizing BiCMOS SiGe HBT technologies for FOM evaluation and compact modelling. The 19th ARTFG On-Wafer Users Forum - EuMW-2024 Conference, Gia Ngoc Phung, Sep 2024, Paris, France. ⟨hal-04736846⟩
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