XPS and TEM investigations of antireflective TaOxNy thin films for concentrated solar power technology - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2024

XPS and TEM investigations of antireflective TaOxNy thin films for concentrated solar power technology

Florian Chabanais
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 1143657
  • IdRef : 263050661
Antoine Goullet
Béatrice Plujat
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 783937
  • IdRef : 204079748
A. Bousquet
Eric Tomasella
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 1238918

Domaines

Matériaux Plasmas
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-04710022 , version 1 (26-09-2024)

Identifiants

  • HAL Id : hal-04710022 , version 1

Citer

Florian Chabanais, Antoine Goullet, Mireille Richard-Plouet, Jonathan Hamon, Nicolas Gautier, et al.. XPS and TEM investigations of antireflective TaOxNy thin films for concentrated solar power technology. Journées Nationales des Spectroscopies de PhotoEmission (JNSPE 2024), May 2024, Lille, France. ⟨hal-04710022⟩
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