Challenges of local electrical measurements on cross-sectional devices using Conductive Atomic Force Microscopy (C-AFM) - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2024

Challenges of local electrical measurements on cross-sectional devices using Conductive Atomic Force Microscopy (C-AFM)

Domaines

Sciences de l'ingénieur [physics] Physique [physics]

Jean-Paul KLEIDER  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-04681544

Soumis le : jeudi 29 août 2024-16:49:03

Dernière modification le : mercredi 30 octobre 2024-13:29:22

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-04681544 , version 1 (29-08-2024)

Licence

Paternité - Pas d'utilisation commerciale

Identifiants

  • HAL Id : hal-04681544 , version 1

Citer

Lisca Da Mattia, J Alvarez, James P. Connolly, Jean-Paul Kleider, Oleksandr Bilousov, et al.. Challenges of local electrical measurements on cross-sectional devices using Conductive Atomic Force Microscopy (C-AFM). E-MRS Spring Meeting, May 2024, Strasbourg, France. ⟨hal-04681544⟩

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