Variability of Electron and Hole Spin Qubits Due to Interface Roughness and Charge Traps - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue Physical Review Applied Année : 2022

Variability of Electron and Hole Spin Qubits Due to Interface Roughness and Charge Traps

Biel Martinez
Modélisation et Exploration des Matériaux
Yann-Michel Niquet
Modélisation et Exploration des Matériaux

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Physique [physics]
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Biel Martinez, Yann-Michel Niquet. Variability of Electron and Hole Spin Qubits Due to Interface Roughness and Charge Traps. Physical Review Applied, 2022, 17 (2), pp.024022. ⟨10.1103/physrevapplied.17.024022⟩. ⟨hal-04673966⟩

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