Testing Spintronics Implemented Monte Carlo Dropout-Based Bayesian Neural Networks - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2024

Testing Spintronics Implemented Monte Carlo Dropout-Based Bayesian Neural Networks

Soyed Tuhin Ahmed
  • Fonction : Auteur
Kamal Danouchi
  • Fonction : Auteur
Michael Hefenbrock
  • Fonction : Auteur
Guillaume Prenat
  • Fonction : Auteur
Lorena Anghel
SPINtronique et TEchnologie des Composants
Mehdi Tahoori
  • Fonction : Auteur

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Lorena Anghel  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-04637589

Soumis le : samedi 6 juillet 2024-20:08:58

Dernière modification le : mercredi 18 décembre 2024-10:12:42

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Dates et versions

hal-04637589 , version 1 (06-07-2024)

Identifiants

Citer

Soyed Tuhin Ahmed, Kamal Danouchi, Michael Hefenbrock, Guillaume Prenat, Lorena Anghel, et al.. Testing Spintronics Implemented Monte Carlo Dropout-Based Bayesian Neural Networks. 2024 IEEE European Test Symposium (ETS), May 2024, The Hague, France. pp.1-6, ⟨10.1109/ETS61313.2024.10567852⟩. ⟨hal-04637589⟩

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