Coupled non-destructive methods, Scanning Electron Microscopy, Kelvin Force Probe microscopy and µ-Raman to characterize doping in 4H-SiC power devices
| Origine | Fichiers produits par l'(les) auteur(s) |
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| Licence |
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Soumis le : jeudi 20 juin 2024-13:22:14
Dernière modification le : vendredi 21 mars 2025-15:41:11