Real-Time SER measurements of CMOS Bulk 40 nm and 65 nm SRAMs combined with neutron spectrometry at the JET Tokamak during D-D and D-T plasma operation - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2024

Real-Time SER measurements of CMOS Bulk 40 nm and 65 nm SRAMs combined with neutron spectrometry at the JET Tokamak during D-D and D-T plasma operation

Résumé

We performed SER characterization of decananometer SRAMs combined with neutron spectrometry in the deuterium-tritium-fueled JET tokamak, demonstrating the impact of machine operation on the reliability of electronics in conditions approaching those of future fusion reactors.

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique
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Jean-Luc Autran  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-04613462

Soumis le : dimanche 16 juin 2024-15:52:57

Dernière modification le : mercredi 19 juin 2024-03:13:13

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Dates et versions

hal-04613462 , version 1 (16-06-2024)

Identifiants

  • HAL Id : hal-04613462 , version 1

Citer

Martin Dentan, Soilihi Moindjie, Matteo Cecchetto, Jean-Luc Autran, Ruben Garcia Alia, et al.. Real-Time SER measurements of CMOS Bulk 40 nm and 65 nm SRAMs combined with neutron spectrometry at the JET Tokamak during D-D and D-T plasma operation. NSREC 2024 - 2024 IEEE Nuclear and Space Radiation Effects Conference, Jul 2024, Ottawa, Canada. ⟨hal-04613462⟩

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