Charge carrier profiling with MIR and THz s-SNOM
Cristiane Santos
(1)
,
Édouard Lebouvier
(1)
,
Benjamin Walter
,
Sophie Eliet
(1, 2)
,
Nicolas Chevalier
(3)
,
J. Hartmann
(3)
,
Romain Peretti
(1, 4)
,
Marc Faucher
(1, 5)
,
Jean-Francois Lampin
(4, 1)
1
IEMN -
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520
2 PCMP - IEMN - Plateforme de Caractérisation Multi-Physiques - IEMN
3 CEA-LETI - Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information
4 PHOTONIQUE THZ - IEMN - Photonique THz - IEMN
5 NAM6 - IEMN - Nano and Microsystems - IEMN
2 PCMP - IEMN - Plateforme de Caractérisation Multi-Physiques - IEMN
3 CEA-LETI - Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information
4 PHOTONIQUE THZ - IEMN - Photonique THz - IEMN
5 NAM6 - IEMN - Nano and Microsystems - IEMN
Benjamin Walter
- Fonction : Auteur
Sophie Eliet
- Fonction : Auteur
- PersonId : 738866
- IdHAL : sophie-eliet
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Romain Peretti
- Fonction : Auteur
- PersonId : 22088
- IdHAL : romain-peretti
- ORCID : 0000-0002-1707-7341
- IdRef : 133038580
Marc Faucher
- Fonction : Auteur
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- IdHAL : marc-faucher
- ORCID : 0000-0003-0206-9813
- IdRef : 086294679
Jean-Francois Lampin
- Fonction : Auteur
- PersonId : 742765
- IdHAL : jean-francois-lampin
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Résumé
In the past years, it has been shown that s-SNOM (scattering-type scanning near-field optical microscopy) is a powerful technique to probe different light-matter interactions. Among them, charge carriers present different optical responses in the mid-infrared (MIR) and terahertz (THz) regions. Here we show that THz s-SNOM is highly sensitive to small changes in charge carrier concentration in a semiconductor, with spatial resolution at the nanometer scale.
Domaines
Matière Condensée [cond-mat]Format du dépôt | Fichier |
---|---|
Type de dépôt | Communication dans un congrès |
Titre |
en
Charge carrier profiling with MIR and THz s-SNOM
|
Résumé |
en
In the past years, it has been shown that s-SNOM (scattering-type scanning near-field optical microscopy) is a powerful technique to probe different light-matter interactions. Among them, charge carriers present different optical responses in the mid-infrared (MIR) and terahertz (THz) regions. Here we show that THz s-SNOM is highly sensitive to small changes in charge carrier concentration in a semiconductor, with spatial resolution at the nanometer scale.
|
Auteur(s) |
Cristiane Santos
1
, Édouard Lebouvier
1
, Benjamin Walter
, Sophie Eliet
1, 2
, Nicolas Chevalier
3
, J. Hartmann
3
, Romain Peretti
1, 4
, Marc Faucher
1, 5
, Jean-Francois Lampin
4, 1
1
IEMN -
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520
( 1066983 )
- [Univ. Lille, CNRS, Centrale Lille Institut, Junia, Univ. Polytechnique Hauts-de-France] ––
Laboratoire Central – Cité Scientifique – Avenue Poincaré – CS 60069 – 59652 VILLENEUVE D’ASCQ CEDEX
- France
2
PCMP - IEMN -
Plateforme de Caractérisation Multi-Physiques - IEMN
( 1067502 )
- France
3
CEA-LETI -
Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information
( 40214 )
- MINATEC 17, rue des Martyrs, 38054, Grenoble Cedex 9
- France
4
PHOTONIQUE THZ - IEMN -
Photonique THz - IEMN
( 1067488 )
- Groupe Photonique THz - IEMN UMR8520 - (Terahertz Photonics)
- France
5
NAM6 - IEMN -
Nano and Microsystems - IEMN
( 1066996 )
- Groupe NAM6 - (Micro et Nano Systèmes) - IEMN UMR8520
- France
|
Comité de lecture |
Oui
|
Audience |
Internationale
|
Langue du document |
Anglais
|
Titre du congrès |
2023 48th International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves (IRMMW-THz)
|
Date de publication |
2023-09-23
|
Page/Identifiant |
1-2
|
Ville |
Montreal
|
Pays |
Canada
|
Actes |
Oui
|
Source |
International Conference on Infrared and Millimeter Waves
|
Date début congrès |
2023-09-17
|
Date fin congrès |
2023-09-22
|
Date de production/écriture |
2023-03-22
|
Vulgarisation |
Non
|
Invité |
Non
|
Éditeur commercial |
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Domaine(s) |
|
Référence interne |
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Collaboration/Projet |
|
Infrastructure de recherche |
|
Projet(s) ANR |
|
Financement |
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Mots-clés |
en
Optical microscopy, Charge carriers, Microscopy, Optical sensors, Optical scattering, Spatial resolution, Probes
|
DOI | 10.1109/IRMMW-THz57677.2023.10298850 |
Origine :
Fichiers produits par l'(les) auteur(s)
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