X-Ray Fault Injection in Non-Volatile Memories on Power OFF Devices - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2023

X-Ray Fault Injection in Non-Volatile Memories on Power OFF Devices

Paul Grandamme
Laboratoire Hubert Curien
CV
Lilian Bossuet
Laboratoire Hubert Curien
Jean-Max Dutertre
  • Fonction : Auteur
École des Mines de Saint-Étienne

Domaines

Electronique
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Citer

Paul Grandamme, Lilian Bossuet, Jean-Max Dutertre. X-Ray Fault Injection in Non-Volatile Memories on Power OFF Devices. 2023 IEEE Physical Assurance and Inspection of Electronics (PAINE), Oct 2023, Huntsville, United States. pp.1-7, ⟨10.1109/PAINE58317.2023.10318018⟩. ⟨hal-04500202⟩

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