Microscopies à force atomique AFM, DFM, MFM, EFM, LFM
Résumé
Microscopie à force atomique. Imager une surface via la mesure des forces d’interaction qui s’exercent entre les atomes d’une surface et ceux d’une pointe sonde.
Mots clés
- Scanning Force Microscopy SFM Magnetic Force Microscopy MFM Dynamic Force Microscopy DFM Lateral Force Microscopy LFM Atomic Force Microscopy AFM Electrostatic Force Microscopy EFM
- Scanning Force Microscopy SFM
- Magnetic Force Microscopy MFM
- Dynamic Force Microscopy DFM
- Lateral Force Microscopy LFM
- Atomic Force Microscopy AFM
- Electrostatic Force Microscopy EFM
Domaines
| Origine | Fichiers produits par l'(les) auteur(s) |
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