In depth investigation of the co-adsorption properties of MOF thin films by in operando spectroscopic Ellipsometry: application for cultural heritage conservation - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2022

In depth investigation of the co-adsorption properties of MOF thin films by in operando spectroscopic Ellipsometry: application for cultural heritage conservation

Sanchari Dasgupta
Institut Lavoisier de Versailles
Subharanjan Biswas
Institut de Chimie Moléculaire et des Matériaux d'Orsay
Kevin Dedecker
Institut Européen des membranes
Eddy Dumas
Institut Lavoisier de Versailles
Christian Serre
Institut des Matériaux Poreux de Paris
Cédric Boissière
Laboratoire de Chimie de la Matière Condensée de Paris
Nathalie Steunou
Institut Lavoisier de Versailles

Domaines

Chimie

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https://hal.science/hal-04405944

Soumis le : vendredi 19 janvier 2024-15:11:44

Dernière modification le : vendredi 8 novembre 2024-03:27:58

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-04405944 , version 1 (19-01-2024)

Identifiants

  • HAL Id : hal-04405944 , version 1

Citer

Sanchari Dasgupta, Subharanjan Biswas, Kevin Dedecker, Eddy Dumas, Christian Serre, et al.. In depth investigation of the co-adsorption properties of MOF thin films by in operando spectroscopic Ellipsometry: application for cultural heritage conservation. CHEMEET 2022, Jun 2022, Online, India. ⟨hal-04405944⟩

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