In – depth chemical and optoelectronic analysis of triple-cation perovskite thin films by combining XPS profiling and PL Imaging
Pia Dally
(1, 2)
,
Stefania Cacovich
(1)
,
Mirella Al Katrib
(1, 2)
,
Guillaume Vidon
(1)
,
Marie Legrand
(1, 3)
,
Stéphanie Gbegnon
(1)
,
Jean Rousset
(1, 3)
,
Jean-Baptiste Puel
(1, 3)
,
Jean-François Guillemoles
(1)
,
Philip Schulz
(1)
,
Muriel Bouttemy
(1, 2)
,
Arnaud Etcheberry
(2)
Pia Dally
- Fonction : Auteur
Stefania Cacovich
- Fonction : Auteur
- PersonId : 739509
- IdHAL : stefania-cacovich
- ORCID : 0000-0002-6402-4816
- IdRef : 270194452
Mirella Al Katrib
- Fonction : Auteur
- PersonId : 1223001
- IdRef : 260214574
Guillaume Vidon
- Fonction : Auteur
- PersonId : 1222444
- ORCID : 0000-0001-7890-2408
- IdRef : 267446349
Marie Legrand
- Fonction : Auteur
- PersonId : 1195118
- ORCID : 0000-0002-1059-6114
- IdRef : 269814396
Jean Rousset
- Fonction : Auteur
- PersonId : 761006
- ORCID : 0000-0002-7905-441X
- IdRef : 118915606
Jean-François Guillemoles
- Fonction : Auteur
- PersonId : 171219
- IdHAL : jean-francois-guillemoles
- ORCID : 0000-0003-0114-8624
- IdRef : 136927564
Philip Schulz
- Fonction : Auteur
- PersonId : 180827
- IdHAL : philip-schulz
- ORCID : 0000-0002-8177-0108
- IdRef : 232807779
Muriel Bouttemy
- Fonction : Auteur
- PersonId : 738062
- IdHAL : muriel-bouttemy
- ORCID : 0000-0001-5907-2576
- IdRef : 112154417
Arnaud Etcheberry
- Fonction : Auteur
- PersonId : 756688
- ORCID : 0000-0003-3515-9866
- IdRef : 061555029