SINGLE NANOWIRE THERMAL MEASUREMENT USING A STHM-SEM COMBINED INSTRUMENT - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2022

SINGLE NANOWIRE THERMAL MEASUREMENT USING A STHM-SEM COMBINED INSTRUMENT

Gordillo Jose Manuel Sojo
  • Fonction : Auteur
Vincent Pascal
  • Fonction : Auteur
Renahy David
  • Fonction : Auteur
Chapuis Pierre-Olivier
  • Fonction : Auteur
Morata Alex
  • Fonction : Auteur
Tarancon Albert
  • Fonction : Auteur
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-04380335 , version 1 (08-01-2024)

Identifiants

  • HAL Id : hal-04380335 , version 1

Citer

Gomes Séverine, Gordillo Jose Manuel Sojo, Vincent Pascal, Renahy David, Chapuis Pierre-Olivier, et al.. SINGLE NANOWIRE THERMAL MEASUREMENT USING A STHM-SEM COMBINED INSTRUMENT. J2N 2022 (Journées Nationales Nanofils semiconducteurs), NICE, 28-30/09/2022, Sep 2022, Nice, France. ⟨hal-04380335⟩
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