Edge detection using deep learning pipelines for TEM and SEM metrology by proposing generic and specific approaches - Archive ouverte HAL
Poster De Conférence Année : 2023

Edge detection using deep learning pipelines for TEM and SEM metrology by proposing generic and specific approaches

Domaines

Automatique / Robotique Vision par ordinateur et reconnaissance de formes [cs.CV] Traitement du signal et de l'image [eess.SP]

Frédéric Chausse  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-04343397

Soumis le : mercredi 13 décembre 2023-19:03:25

Dernière modification le : lundi 2 décembre 2024-14:48:10

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-04343397 , version 1 (13-12-2023)

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Domaine public

Identifiants

Citer

Edgar Loza, Julien Baderot, Marion Grould, Emilie Pery, Frédéric Chausse, et al.. Edge detection using deep learning pipelines for TEM and SEM metrology by proposing generic and specific approaches. Metrology, Inspection, and Process Control XXXVII, Feb 2023, San Jose, United States. SPIE, pp.96, ⟨10.1117/12.2657908⟩. ⟨hal-04343397⟩

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