The effect of grain boundary structure on electrical resistivity for a pure metal - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2021

The effect of grain boundary structure on electrical resistivity for a pure metal

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Matteo Ghidelli  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-04311925

Soumis le : mardi 28 novembre 2023-13:21:42

Dernière modification le : vendredi 29 novembre 2024-03:29:25

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-04311925 , version 1 (28-11-2023)

Identifiants

  • HAL Id : hal-04311925 , version 1

Citer

Hanna Bishara, Lena Frommeyer, Subin Lee, Tobias Brink, Matteo Ghidelli, et al.. The effect of grain boundary structure on electrical resistivity for a pure metal. International Conference on Internal Interfaces (ICII-2021), Oct 2021, Castle Rheinfels, Germany. ⟨hal-04311925⟩

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