Advanced scanning electron microscopy techniques for structural characterization of zeolites - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Inorganic Chemistry Frontiers Année : 2022

Advanced scanning electron microscopy techniques for structural characterization of zeolites

Natsuko Asano
  • Fonction : Auteur
Shunsuke Asahina
Jinfeng Lu
  • Fonction : Auteur
Zhengxing Qin
Svetlana Mintova

Résumé

Chemical etching after Ar ion beam cross sectioning enables the formation of zeolite internal nano structures to be observed directly using a newly developed highly sensitive scanning electron microscope.

Domaines

Chimie
Fichier principal
Vignette du fichier
322-Advanced scanning electron microscope techniques for the structural characterization of molecular sieves (1).pdf (1.73 Mo) Télécharger le fichier
Origine : Fichiers produits par l'(les) auteur(s)

Dates et versions

hal-04297911 , version 1 (21-11-2023)

Identifiants

Citer

Natsuko Asano, Shunsuke Asahina, Jinfeng Lu, Jiani Xu, Yanfeng Shen, et al.. Advanced scanning electron microscopy techniques for structural characterization of zeolites. Inorganic Chemistry Frontiers, 2022, 9 (16), pp.4225-4231. ⟨10.1039/D2QI00952H⟩. ⟨hal-04297911⟩
22 Consultations
15 Téléchargements

Altmetric

Partager

Gmail Facebook X LinkedIn More