Communication Dans Un Congrès
Année : 2024
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https://hal.science/hal-04286622
Soumis le : mercredi 15 novembre 2023-10:59:17
Dernière modification le : lundi 30 septembre 2024-16:10:53
Citer
J. Lomonaco, N. Rostand, S. Martinie, Arnaud Bournel. TCAD simulation methodology of total ionizing dose effects for PDSOI transistor with a hump characteristic. 9th Joint International EuroSOI Workshop and International Conference on Ultimate Integration on Silicon (EuroSOI-ULIS), May 2023, Tarragone, Spain. pp.108813, ⟨10.1016/j.sse.2023.108813⟩. ⟨hal-04286622⟩
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