Performances of an 80–200 kV microscope employing a cold-FEG and an aberration-corrected objective lens - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue Probe Microscopy Année : 2013

Performances of an 80–200 kV microscope employing a cold-FEG and an aberration-corrected objective lens

Christian Ricolleau
  • Fonction : Auteur
Jaysen Nelayah
Tetsuo Oikawa
  • Fonction : Auteur
Yuji Kohno
  • Fonction : Auteur
Nadi Braidy
  • Fonction : Auteur
Guillaulle Wang
  • Fonction : Auteur
Florian Hue
  • Fonction : Auteur
Lenuta Florea
  • Fonction : Auteur
Institut de Physique et Chimie des Matériaux de Strasbourg
Véronique Pierron Bohnes
  • Fonction : Auteur
Institut de Physique et Chimie des Matériaux de Strasbourg
Damien Alloyeau
Laboratoire Matériaux et Phénomènes Quantiques

Domaines

Physique [physics]
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Citer

Christian Ricolleau, Jaysen Nelayah, Tetsuo Oikawa, Yuji Kohno, Nadi Braidy, et al.. Performances of an 80–200 kV microscope employing a cold-FEG and an aberration-corrected objective lens. Probe Microscopy, 2013, 62 (2), pp.283-293. ⟨10.1093/jmicro/dfs072⟩. ⟨hal-04277302⟩

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