Communication Dans Un Congrès
Année : 2023
Lorena Anghel : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-04202681
Soumis le : lundi 11 septembre 2023-11:36:11
Dernière modification le : lundi 16 décembre 2024-15:37:05
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-04202681 , version 1
- DOI : 10.1109/IOLTS59296.2023.10224895
Citer
Y. Aslan, F. Cacho, T. Kumar, D. Janardan, A. Kumar, et al.. Minimum SRAM Retention Voltage: Insight about optimizing Power Efficiency across Temperature Profile, Process Variation and Aging. 2023 IEEE 29th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS), IEEE, Jul 2023, Crete, Greece. pp.1-6, ⟨10.1109/IOLTS59296.2023.10224895⟩. ⟨hal-04202681⟩
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