Un banc de mesure de paramètres S en espace libre sans moyennage ni filtrage temporel : caractérisation de matériaux jusqu'à 330 GHz
Résumé
Cet article présente un banc de mesure des paramètre S en espace libre en bande J. La caractérisation complexe de la permittivité de divers matériaux est effectuée jusqu'à 330 GHz en mesurant l'amplitude et la phase des coefficients de réflexion et de transmission. La comparaison entre les paramètres S mesurés et simulés montre un très bon accord et valide le banc d'essai ainsi que la procédure d'étalonnage.
| Origine | Fichiers produits par l'(les) auteur(s) |
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