Nano-caractérisation par les modes électriques de l'AFM : du matériau au composant - Archive ouverte HAL
Poster De Conférence Année : 2023

Nano-caractérisation par les modes électriques de l'AFM : du matériau au composant

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Sciences de l'ingénieur [physics] Physique [physics]
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Soumis le : lundi 3 juillet 2023-21:41:56

Dernière modification le : mardi 4 juin 2024-13:26:03

Archivage à long terme le : jeudi 5 octobre 2023-09:44:13

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Dates et versions

hal-04149653 , version 1 (03-07-2023)

Identifiants

  • HAL Id : hal-04149653 , version 1

Citer

Louis Thomas, S. Godey, D. Deresmes, Maxime Berthe. Nano-caractérisation par les modes électriques de l'AFM : du matériau au composant. 24éme Forum des microscopies à sonde locale 2023, Apr 2023, Obernai, France. ⟨hal-04149653⟩

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