Identification of stress factors and degradation mechanisms inducing DCR drift in SPADs - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2022
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-04138806 , version 1 (23-06-2023)

Identifiants

Citer

Mathieu Sicre, Xavier Federspiel, David Roy, Bastien Mamby, Caroline Coutier, et al.. Identification of stress factors and degradation mechanisms inducing DCR drift in SPADs. 2022 IEEE International Integrated Reliability Workshop (IIRW), Oct 2022, South Lake Tahoe, United States. pp.1-5, ⟨10.1109/IIRW56459.2022.10032759⟩. ⟨hal-04138806⟩
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