Radiation Characterization of a Backside-Illuminated P-Type Photo-MOS Pixel With Gamma Rays and Fusion-Induced Neutrons - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue IEEE Transactions on Nuclear Science Année : 2022

Radiation Characterization of a Backside-Illuminated P-Type Photo-MOS Pixel With Gamma Rays and Fusion-Induced Neutrons

Victor Malherbe
STMicroelectronics
Francois Roy
STMicroelectronics
Olivier Nier
  • Fonction : Auteur
STMicroelectronics
Thomas Dalleau
  • Fonction : Auteur
STMicroelectronics
Serge de Paoli
STMicroelectronics
Philippe Roche
  • Fonction : Auteur
STMicroelectronics
Jean-Luc Autran
Institut des Matériaux, de Microélectronique et des Nanosciences de Provence
Martin Dentan
  • Fonction : Auteur
ITER organization
Guo-Neng Lu
  • Fonction : Auteur
INL - Conception de Systèmes Hétérogènes

Domaines

Sciences de l'ingénieur [physics]

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Soumis le : jeudi 22 juin 2023-17:05:53

Dernière modification le : lundi 10 juin 2024-16:58:03

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Dates et versions

hal-04138209 , version 1 (22-06-2023)

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Citer

Victor Malherbe, Francois Roy, Olivier Nier, Thomas Dalleau, Serge de Paoli, et al.. Radiation Characterization of a Backside-Illuminated P-Type Photo-MOS Pixel With Gamma Rays and Fusion-Induced Neutrons. IEEE Transactions on Nuclear Science, 2022, 69 (3), pp.534-541. ⟨10.1109/TNS.2022.3148925⟩. ⟨hal-04138209⟩

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