A fine analysis of the composition of organic-inorganic complex layers of cross-sections from old paintings by TOF-SIMS imaging, enlightened by MS/MS and Orbitrap - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2022

A fine analysis of the composition of organic-inorganic complex layers of cross-sections from old paintings by TOF-SIMS imaging, enlightened by MS/MS and Orbitrap

Alain Brunelle
Laboratoire d'Archéologie Moléculaire et Structurale
Caroline Bouvier
Laboratoire d'Archéologie Moléculaire et Structurale
Sven Kayser
  • Fonction : Auteur
IONTOF GmbH
Alexander Pirkl
  • Fonction : Auteur
IONTOF GmbH
Ewald Niehuis
  • Fonction : Auteur
IONTOF GmbH
Philippe Walter
Laboratoire d'Archéologie Moléculaire et Structurale

Domaines

Chimie analytique

Alain Brunelle  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-04029818

Soumis le : mercredi 15 mars 2023-10:52:30

Dernière modification le : jeudi 11 avril 2024-13:08:14

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-04029818 , version 1 (15-03-2023)

Identifiants

  • HAL Id : hal-04029818 , version 1

Citer

Alain Brunelle, Caroline Bouvier, Sven Kayser, Alexander Pirkl, Ewald Niehuis, et al.. A fine analysis of the composition of organic-inorganic complex layers of cross-sections from old paintings by TOF-SIMS imaging, enlightened by MS/MS and Orbitrap. SIMS XXIII 22th International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry, Sep 2022, Minneapolis (MN), United States. ⟨hal-04029818⟩

Exporter

BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite

Collections

CNRS LAMS INC-CNRS SORBONNE-UNIVERSITE SU-SCIENCES CHIMIE-SU
17 Consultations
0 Téléchargements

Partager

More