Influence de la vitesse de scan sur la microstructure de murs fins en IN718, produits par dépôt sous énergie concentrée - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2022

Influence de la vitesse de scan sur la microstructure de murs fins en IN718, produits par dépôt sous énergie concentrée

Domaines

Génie mécanique [physics.class-ph]
Fichier principal
Vignette du fichier
Brehier_Manuf.pdf (1.36 Mo) Télécharger le fichier
Origine Fichiers produits par l'(les) auteur(s)

CCSD Sciencesconf.org  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-04011649

Soumis le : jeudi 2 mars 2023-14:12:37

Dernière modification le : samedi 26 octobre 2024-11:20:38

Archivage à long terme le : vendredi 2 juin 2023-16:52:04

Télécharger pour visualiser

Dates et versions

hal-04011649 , version 1 (02-03-2023)

Identifiants

  • HAL Id : hal-04011649 , version 1

Citer

Michèle Bréhier, Daniel Weisz-Patrault, Christophe Tournier. Influence de la vitesse de scan sur la microstructure de murs fins en IN718, produits par dépôt sous énergie concentrée. Conference Manufacturing21, Ecole Normale Supérieure Paris-Saclay [ENS Paris Saclay], Oct 2022, Gif Sur Yvette, France. ⟨hal-04011649⟩

Exporter

BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite

Collections

X CNRS ENS-CACHAN X-LMS X-DEP-MECA PARISTECH UNIV-PARIS-SACLAY IP_PARIS ANR ENS-PARIS-SACLAY GS-COMPUTER-SCIENCE MANUFACTURING21
46 Consultations
53 Téléchargements

Partager

More