Simulation of potential decay and return due to charge transport in a solid dielectric - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2011

Simulation of potential decay and return due to charge transport in a solid dielectric

N. Hitoum
  • Fonction : Auteur
Séverine Le Roy
Diélectriques Solides et Fiabilité
CV
Gilbert Teyssedre
Diélectriques Solides et Fiabilité
CV
P. Molinié
Institut des Matériaux Jean Rouxel
CV

Domaines

Energie électrique

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https://hal.science/hal-03988293

Soumis le : mardi 14 février 2023-13:22:05

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Dates et versions

hal-03988293 , version 1 (14-02-2023)

Identifiants

  • HAL Id : hal-03988293 , version 1

Citer

N. Hitoum, Séverine Le Roy, Gilbert Teyssedre, P. Molinié. Simulation of potential decay and return due to charge transport in a solid dielectric. IMDM'3: Third international Meeting on Dielectric Materials, Monastir, Tunisia, 2011, Monastir, Tunisia. ⟨hal-03988293⟩

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