The visualization of Silicon nanoparticles by 3D electron tomography: use of mass-thickness contrast bright field imaging - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2012
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Dates et versions

hal-03987867 , version 1 (14-02-2023)

Identifiants

  • HAL Id : hal-03987867 , version 1

Citer

L. Xie, S. Rubino, Jérémy Barbé, P. Faucherand, C. Morin, et al.. The visualization of Silicon nanoparticles by 3D electron tomography: use of mass-thickness contrast bright field imaging. The 15th European Microscopy Congress Manchester Central, United Kingdom, 2012, Manchester Central, United Kingdom. ⟨hal-03987867⟩
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