Investigations on Ionizing Dose Deposition in Thin-Layered Devices: Sample-to-Sample Variability and Electronic Equilibrium Dependence - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue IEEE Transactions on Nuclear Science Année : 2023

Investigations on Ionizing Dose Deposition in Thin-Layered Devices: Sample-to-Sample Variability and Electronic Equilibrium Dependence

Marc Gaillardin
CEA - Centre de Gramat
Damien Lambert
DAM Île-de-France
Sylvain Girard
Laboratoire Hubert Curien
CV
Damien Aubert
CEA - Centre de Gramat
Gilles Assaillit
  • Fonction : Auteur
CEA - Centre de Gramat
Adriana Morana
Laboratoire Hubert Curien
Sophie Nobre-Tavares
  • Fonction : Auteur
CEA - Centre de Gramat
Arnaud Meyer
Laboratoire Hubert Curien
Jeoffray Vidalot
DAM Île-de-France
Christophe Delbos
  • Fonction : Auteur
CEA - Centre de Gramat
Philippe Paillet
DAM Île-de-France
Thierry Ginibriere
  • Fonction : Auteur
CEA - Centre de Gramat
Roberto de Nardi
  • Fonction : Auteur
CEA - Centre de Gramat
David Poujols
  • Fonction : Auteur
CEA - Centre de Gramat

Domaines

Sciences de l'ingénieur [physics]

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https://hal.science/hal-03978804

Soumis le : mercredi 8 février 2023-14:11:34

Dernière modification le : mardi 19 novembre 2024-09:28:02

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-03978804 , version 1 (08-02-2023)

Identifiants

Citer

Marc Gaillardin, Damien Lambert, Sylvain Girard, Damien Aubert, Gilles Assaillit, et al.. Investigations on Ionizing Dose Deposition in Thin-Layered Devices: Sample-to-Sample Variability and Electronic Equilibrium Dependence. IEEE Transactions on Nuclear Science, 2023, pp.1-1. ⟨10.1109/TNS.2023.3239950⟩. ⟨hal-03978804⟩

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