Design and Test of Innovative Three-Couplers-Based Bandpass Negative Group Delay Active Circuit - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue IEEE Design & Test Année : 2022

Design and Test of Innovative Three-Couplers-Based Bandpass Negative Group Delay Active Circuit

Fayu Wan
Taochen Gu
Sebastien Lallechere
Preeti Thakur
Atul Thakur
Blaise Ravelo
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Origine : Fichiers produits par l'(les) auteur(s)

Dates et versions

hal-03969220 , version 1 (22-03-2023)

Identifiants

Citer

Fayu Wan, Taochen Gu, Sebastien Lallechere, Preeti Thakur, Atul Thakur, et al.. Design and Test of Innovative Three-Couplers-Based Bandpass Negative Group Delay Active Circuit. IEEE Design & Test, 2022, 39 (1), pp.57-66. ⟨10.1109/MDAT.2021.3079178⟩. ⟨hal-03969220⟩
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