Soft x-ray optical constants of sputtered chromium thin films with improved accuracy in the L and M absorption edge regions - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue Journal of Applied Physics Année : 2018

Soft x-ray optical constants of sputtered chromium thin films with improved accuracy in the L and M absorption edge regions

Domaines

Matière Condensée [cond-mat]

Emrick BRIAND  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-03945159

Soumis le : mercredi 18 janvier 2023-14:24:53

Dernière modification le : samedi 7 octobre 2023-21:36:23

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Dates et versions

hal-03945159 , version 1 (18-01-2023)

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Citer

Franck Delmotte, Julia Meyer-Ilse, Farhad Salmassi, Regina Soufli, Catherine Burcklen, et al.. Soft x-ray optical constants of sputtered chromium thin films with improved accuracy in the L and M absorption edge regions. Journal of Applied Physics, 2018, 124 (3), pp.035107. ⟨10.1063/1.5027488⟩. ⟨hal-03945159⟩

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