Dispersion et fiabilité technologique des micro-commutateurs capacitifs RF - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2011
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-03943864 , version 1 (17-01-2023)

Identifiants

  • HAL Id : hal-03943864 , version 1

Citer

Christina Villeneuve-Faure, V. Puyal, Patrick Pons, Daniela Dragomirescu. Dispersion et fiabilité technologique des micro-commutateurs capacitifs RF. 17èmes Journées Nationales Microondes (JNM 2011), May 2011, Brest, France. ⟨hal-03943864⟩
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