Dependence of the field and charge distribution at semicon/polyethylene interface on the press-molding process derived from Kelvin Probe Force Microscopy
Domaines
| Origine | Fichiers produits par l'(les) auteur(s) |
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| Origine | Fichiers produits par l'(les) auteur(s) |
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https://hal.science/hal-03943240
Soumis le : vendredi 20 janvier 2023-16:30:12
Dernière modification le : lundi 3 novembre 2025-15:54:33
Archivage à long terme le : vendredi 21 avril 2023-19:21:05