Electrical field induced mechanical strain measurement of Poly (Ethylene-2, 6-Naphthalene Dicarboxylate) (PEN) thin films by a non destructive optical technique - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2007

Electrical field induced mechanical strain measurement of Poly (Ethylene-2, 6-Naphthalene Dicarboxylate) (PEN) thin films by a non destructive optical technique

Boubakeur Zegnini
  • Fonction : Auteur
LAboratoire PLasma et Conversion d'Energie
Laurent Boudou
Diélectriques Solides et Fiabilité
CV
D. Mahi
  • Fonction : Auteur
Juan Martinez-Vega
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 988540
Diélectriques Solides et Fiabilité

Domaines

Electromagnétisme

Karine Pistre  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-03942700

Soumis le : mardi 17 janvier 2023-11:06:55

Dernière modification le : lundi 20 novembre 2023-11:44:21

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Dates et versions

hal-03942700 , version 1 (17-01-2023)

Identifiants

  • HAL Id : hal-03942700 , version 1

Citer

Boubakeur Zegnini, Laurent Boudou, D. Mahi, Juan Martinez-Vega. Electrical field induced mechanical strain measurement of Poly (Ethylene-2, 6-Naphthalene Dicarboxylate) (PEN) thin films by a non destructive optical technique. CNHT 2007, Oran, ALGERIA, 2007, Oran, Algeria. ⟨hal-03942700⟩

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