Kossel interferences of proton-induced X-ray emission lines to study the interfaces of thin film waveguides - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2018

Kossel interferences of proton-induced X-ray emission lines to study the interfaces of thin film waveguides

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Soumis le : mardi 10 janvier 2023-11:22:32

Dernière modification le : jeudi 31 octobre 2024-03:25:29

Archivage à long terme le : mardi 11 avril 2023-18:37:30

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Dates et versions

hal-03932389 , version 1 (10-01-2023)

Identifiants

  • HAL Id : hal-03932389 , version 1

Citer

J P Zhang, C Pendenque, K Le Guen, R Delaunay, I Vickridge, et al.. Kossel interferences of proton-induced X-ray emission lines to study the interfaces of thin film waveguides. PXRNMS2018, Physics of X-ray and Neutron Multilayer Structures, Nov 2018, Palaiseau, France. ⟨hal-03932389⟩

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