Low absorption metrology of thin film optical components for high power continuous wave lasers - Archive ouverte HAL
Communication Dans Un Congrès Année : 2022

Low absorption metrology of thin film optical components for high power continuous wave lasers

Camille Petite
  • Fonction : Auteur
Institut FRESNEL
Jeanne Graisset
  • Fonction : Auteur
Institut FRESNEL
Antonin Moreau
  • Fonction : Auteur
Institut FRESNEL
Hélène Krol
  • Fonction : Auteur
Compagnie industrielle des lasers
Catherine Grèzes-Besset
  • Fonction : Auteur
Compagnie industrielle des lasers
Julien Lumeau
Institut FRESNEL
Laurent Gallais
  • Fonction : Auteur
Institut FRESNEL

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https://hal.science/hal-03917341

Soumis le : dimanche 1 janvier 2023-17:51:14

Dernière modification le : mardi 12 novembre 2024-17:45:38

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Dates et versions

hal-03917341 , version 1 (01-01-2023)

Identifiants

Citer

Camille Petite, Jeanne Graisset, Antonin Moreau, Hélène Krol, Catherine Grèzes-Besset, et al.. Low absorption metrology of thin film optical components for high power continuous wave lasers. Laser-Induced Damage in Optical Materials 2022, Sep 2022, Rochester, United States. pp.42, ⟨10.1117/12.2642761⟩. ⟨hal-03917341⟩

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