In situ x-ray diffraction analysis of 2D crack patterning in thin films

D. Faurie; F. Zighem; P. Godard; G. Parry; T. Sadat; D. Thiaudière; P.-O. Renault

doi:10.1016/j.actamat.2018.11.040

Article Dans Une Revue Acta Materialia Année : 2019

In situ x-ray diffraction analysis of 2D crack patterning in thin films

(1) , , , , , ,

1

D. Faurie

Fonction : Auteur
PersonId : 748295
IdHAL : damien-faurie
ORCID : 0000-0001-7259-3958
IdRef : 095054766

Laboratoire des Sciences des Procédés et des Matériaux

CV

F. Zighem

Fonction : Auteur

P. Godard

Fonction : Auteur
PersonId : 762183
ORCID : 0000-0002-5402-6033
IdRef : 140798072

G. Parry

Fonction : Auteur
PersonId : 1186693
ORCID : 0000-0002-4983-8336
IdRef : 088615103

T. Sadat

Fonction : Auteur

D. Thiaudière

Fonction : Auteur

P.-O. Renault

Fonction : Auteur
PersonId : 759478
ORCID : 0000-0002-0736-2333
IdRef : 094945497

Domaines

Physique [physics]

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Soumis le : dimanche 11 décembre 2022-17:18:53

Dernière modification le : vendredi 29 novembre 2024-03:29:30

Dates et versions

hal-03893722 , version 1 (11-12-2022)

Identifiants

HAL Id : hal-03893722 , version 1
DOI : 10.1016/j.actamat.2018.11.040

Citer

D. Faurie, F. Zighem, P. Godard, G. Parry, T. Sadat, et al.. In situ x-ray diffraction analysis of 2D crack patterning in thin films. Acta Materialia, 2019, 165, pp.177-182. ⟨10.1016/j.actamat.2018.11.040⟩. ⟨hal-03893722⟩

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