In situ x-ray diffraction analysis of 2D crack patterning in thin films - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Acta Materialia Année : 2019

In situ x-ray diffraction analysis of 2D crack patterning in thin films

F. Zighem
  • Fonction : Auteur
P. Godard
G. Parry
T. Sadat
  • Fonction : Auteur
D. Thiaudière
  • Fonction : Auteur
P.-O. Renault
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-03893722 , version 1 (11-12-2022)

Identifiants

Citer

D. Faurie, F. Zighem, P. Godard, G. Parry, T. Sadat, et al.. In situ x-ray diffraction analysis of 2D crack patterning in thin films. Acta Materialia, 2019, 165, pp.177-182. ⟨10.1016/j.actamat.2018.11.040⟩. ⟨hal-03893722⟩
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