Hierarchical X-ray laminography for the observation of in situ processes in large, application relevant samples - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2022

Hierarchical X-ray laminography for the observation of in situ processes in large, application relevant samples

Mathias Hurst
Lukas Helfen
  • Fonction : Auteur
Thilo F. Morgeneyer
Heikki Suhonen
  • Fonction : Auteur
Jussi-Petteri Suuronen
Daniel Haenschke
  • Fonction : Auteur
Tilo Baumbach
  • Fonction : Auteur
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-03890268 , version 1 (08-12-2022)

Identifiants

  • HAL Id : hal-03890268 , version 1

Citer

Mathias Hurst, Lukas Helfen, Thilo F. Morgeneyer, Heikki Suhonen, Jussi-Petteri Suuronen, et al.. Hierarchical X-ray laminography for the observation of in situ processes in large, application relevant samples. 14th International Conference on Synchrotron Instrumentation (SRI), Mar 2022, Hamburg, Germany. ⟨hal-03890268⟩
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