Hierarchical region-of-interest tracking for in situ nano-scale X-ray laminography - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2022

Hierarchical region-of-interest tracking for in situ nano-scale X-ray laminography

Mathias Hurst
Lukas Helfen
Thilo F. Morgeneyer
Heikki Suhonen
  • Fonction : Auteur
Jussi-Petteri Suuronen
Ante Buljac
  • Fonction : Auteur
François Hild
Tilo Baumbach
  • Fonction : Auteur
Daniel Hänschke
  • Fonction : Auteur
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-03890227 , version 1 (08-12-2022)

Identifiants

  • HAL Id : hal-03890227 , version 1

Citer

Mathias Hurst, Lukas Helfen, Thilo F. Morgeneyer, Heikki Suhonen, Jussi-Petteri Suuronen, et al.. Hierarchical region-of-interest tracking for in situ nano-scale X-ray laminography. 5th International Conference on Tomography of Materials & Structures (ICTMS), Jul 2022, Grenoble, France. ⟨hal-03890227⟩
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