Impact of sample roughness in Scanning Thermal Microscopy - Archive ouverte HAL
Poster De Conférence Année : 2022

Impact of sample roughness in Scanning Thermal Microscopy

Domaines

Sciences de l'ingénieur [physics]

Pierre-Olivier Chapuis  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-03863455

Soumis le : lundi 21 novembre 2022-14:08:25

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:53:29

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-03863455 , version 1 (21-11-2022)

Identifiants

  • HAL Id : hal-03863455 , version 1

Citer

E. Guen, N. J. Kaur, P. Klapetek, P.-O. Chapuis, S. Gomès. Impact of sample roughness in Scanning Thermal Microscopy. Eurotherm 114: Nanoscale and Microscale Heat Transfer VII, May 2022, Palermo, Italy. ⟨hal-03863455⟩

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