Etching of the SiGa x N y Passivation Layer for Full Emissive Lateral Facet Coverage in InGaN/GaN Core–Shell Nanowires by MOVPE - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue Crystal Growth & Design Année : 2022

Etching of the SiGa x N y Passivation Layer for Full Emissive Lateral Facet Coverage in InGaN/GaN Core–Shell Nanowires by MOVPE

Domaines

Matériaux
Fichier principal
Vignette du fichier
FinalManuscript.pdf (1.21 Mo) Télécharger le fichier
Origine Fichiers produits par l'(les) auteur(s)

Dates et versions

hal-03848820 , version 1 (14-11-2022)

Identifiants

Citer

Julien Bosch, Pierre-Marie Coulon, Sébastien Chenot, Marc Portail, Christophe Durand, et al.. Etching of the SiGa x N y Passivation Layer for Full Emissive Lateral Facet Coverage in InGaN/GaN Core–Shell Nanowires by MOVPE. Crystal Growth & Design, 2022, 22 (9), pp.5206-5214. ⟨10.1021/acs.cgd.2c00286⟩. ⟨hal-03848820⟩
44 Consultations
82 Téléchargements

Altmetric

Partager

More