Sub-picosecond 1030 nm laser-induced damage threshold evaluation of pulsed-laser deposited sesquioxide thin films - Archive ouverte HAL
Article Dans Une Revue Optical Engineering Année : 2022

Sub-picosecond 1030 nm laser-induced damage threshold evaluation of pulsed-laser deposited sesquioxide thin films

Marek Stehlik
  • Fonction : Auteur
Janis Zideluns
  • Fonction : Auteur
Fabien Lemarchand
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 846494
Frank Wagner
  • Fonction : Auteur
Julien Lumeau
Laurent Gallais

Dates et versions

hal-03751035 , version 1 (13-08-2022)

Identifiants

Citer

Marek Stehlik, Goby Govindassamy, Janis Zideluns, Fabien Lemarchand, Frank Wagner, et al.. Sub-picosecond 1030 nm laser-induced damage threshold evaluation of pulsed-laser deposited sesquioxide thin films. Optical Engineering, 2022, 61 (07), ⟨10.1117/1.OE.61.7.071603⟩. ⟨hal-03751035⟩
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