Communication Dans Un Congrès
Année : 2022
Raphael Sommet : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-03745009
Soumis le : mercredi 3 août 2022-15:39:58
Dernière modification le : vendredi 8 mars 2024-10:16:48
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-03745009 , version 1
- DOI : 10.23919/EuMIC50153.2022.9783939
Citer
Emmanuel Dupouy, P. Vigneshwara Raja, Florent Gaillard, Raphaël Sommet, Jean-Christophe Nallatamby. Trap Characterization in InAlN/GaN and AlN/GaN based HEMTs with Fe- and C-doped Buffers. 2021 16th European Microwave Integrated Circuits Conference (EuMIC), Apr 2022, London, United Kingdom. pp.197-200, ⟨10.23919/EuMIC50153.2022.9783939⟩. ⟨hal-03745009⟩
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