Kit d'étalonnage TRL pour la caractérisation sub-mmWave sous pointes de InP-HEMT
Résumé
Nous proposons le développement de kits d’étalonnage on-wafer de type multiline Thru-ReflectLine pour mesurer des transistors à des fréquences au-delà de 110 GHz. L’objectif final est la mesure jusque 1,1THz de paramètres S de HEMT, dont la fréquence de coupure avoisine 1 THz. Une première conception de kit montre que l’utilisation de configurations adéquates aux bandes de fréquences utilisées dans l’étalonnage, optimisera nos mesures de la partie active de nos composants