Kit d'étalonnage TRL pour la caractérisation sub-mmWave sous pointes de InP-HEMT - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2022

Kit d'étalonnage TRL pour la caractérisation sub-mmWave sous pointes de InP-HEMT

Résumé

Nous proposons le développement de kits d’étalonnage on-wafer de type multiline Thru-ReflectLine pour mesurer des transistors à des fréquences au-delà de 110 GHz. L’objectif final est la mesure jusque 1,1THz de paramètres S de HEMT, dont la fréquence de coupure avoisine 1 THz. Une première conception de kit montre que l’utilisation de configurations adéquates aux bandes de fréquences utilisées dans l’étalonnage, optimisera nos mesures de la partie active de nos composants
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-03702659 , version 1 (23-06-2022)

Identifiants

  • HAL Id : hal-03702659 , version 1

Citer

R. Younes, Nicolas Wichmann, Sylvie Lepilliet, Guillaume Ducournau, S. Bollaert. Kit d'étalonnage TRL pour la caractérisation sub-mmWave sous pointes de InP-HEMT. XXIIèmes Journées Nationales Microondes, Jun 2022, Limoges, France. ⟨hal-03702659⟩
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