Condition monitoring and evaluation of Ron degradation during power cycling of SiC-Mosfets power modules - Archive ouverte HAL

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Communication Dans Un Congrès Année : 2022

Condition monitoring and evaluation of Ron degradation during power cycling of SiC-Mosfets power modules

(1, 2) , (1, 2) , (1)

1
2

Ali Ibrahim

Fonction : Auteur
PersonId : 755026
IdHAL : ali-ibrahim
ORCID : 0000-0002-9152-8307

Systèmes et Applications des Technologies de l'Information et de l'Energie

Université Gustave Eiffel

Zoubir Khatir

Fonction : Auteur
PersonId : 17503
IdHAL : khatir-zoubir
ORCID : 0000-0002-3026-1346
IdRef : 033890439

Systèmes et Applications des Technologies de l'Information et de l'Energie

Université Gustave Eiffel

Mounira Bouarroudj-Berkani

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IdRef : 131393634

Systèmes et Applications des Technologies de l'Information et de l'Energie

Domaines

Sciences de l'ingénieur [physics]

Khatir Zoubir : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.science/hal-03656145

Soumis le : dimanche 1 mai 2022-17:12:59

Dernière modification le : vendredi 19 juillet 2024-11:38:05

Dates et versions

hal-03656145 , version 1 (01-05-2022)

Identifiants

HAL Id : hal-03656145 , version 1

Citer

Ali Ibrahim, Zoubir Khatir, Mounira Bouarroudj-Berkani. Condition monitoring and evaluation of Ron degradation during power cycling of SiC-Mosfets power modules. International Conference on integrated Power Electronics Systems (CIPS), Mar 2022, Berlin, Germany. ⟨hal-03656145⟩

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