Communication Dans Un Congrès
Année : 2021
Jean Marie Pham : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://hal.science/hal-03651606
Soumis le : lundi 25 avril 2022-18:50:09
Dernière modification le : lundi 5 juin 2023-16:52:12
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-03651606 , version 1
- DOI : 10.1109/IMWS-AMP53428.2021.9643855
Citer
Issam Marah, Antony Ghiotto, Aurelie Verger, Jean-Marie Pham. A Test Fixture for the Measurement of 3-port Y-junction AFSIW Circuits. 2021 IEEE MTT-S International Microwave Workshop Series on Advanced Materials and Processes for RF and THz Applications (IMWS-AMP), Nov 2021, Chongqing, China. pp.305-307, ⟨10.1109/IMWS-AMP53428.2021.9643855⟩. ⟨hal-03651606⟩
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